一、單波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀原理：

    用全聚焦型雙曲面彎晶將微焦斑X線(xiàn)管(可看作點(diǎn)光源)發(fā)射的原級(jí)X射線(xiàn)的某個(gè)波長(zhǎng)(通常選取出射譜中的特征X射線(xiàn))的X射線(xiàn)單色化并聚焦于樣品測(cè)試表面，激發(fā)樣品中元素的熒光X射線(xiàn)。由于入射到樣品的X射線(xiàn)具有很好的單色性，幾乎不存在連續(xù)譜，因此從樣品出射的X射線(xiàn)除了樣品中的元素被激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線(xiàn)(線(xiàn)光譜)和單色入射線(xiàn)的瑞利散射和康普頓散射以外，幾乎不存在連續(xù)散射背景。因此待測(cè)元素特征線(xiàn)具有極低的背景。樣品上出射的X射線(xiàn)(可視作點(diǎn)光源)中待測(cè)元素的特征熒光X譜線(xiàn)經(jīng)全聚焦型雙曲面彎晶衍射，得到具有極低背景的特征X射線(xiàn)，并聚焦到探測(cè)器上進(jìn)行探測(cè)，由特征X射線(xiàn)強(qiáng)度進(jìn)行元素含量的定量分析。

二、單波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)：

    由于采用單波長(zhǎng)激發(fā)并按波長(zhǎng)色散原理進(jìn)行待測(cè)元素的特征熒光X射線(xiàn)檢測(cè)，極低的背景帶來(lái)極低的檢出限，將X射線(xiàn)熒光光譜分析的領(lǐng)域由微量(ppm級(jí))延伸到痕量(亞ppm到ppb級(jí))。結(jié)合X射線(xiàn)熒光光譜分析的快速、無(wú)損的優(yōu)點(diǎn)，單波長(zhǎng)激發(fā)波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀在諸如食品安全、水質(zhì)監(jiān)測(cè)等常規(guī)XRF無(wú)法涉足的領(lǐng)域必將得到廣泛的應(yīng)用。

三、單波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀缺點(diǎn)：

    全聚焦型雙曲面彎晶制作工藝極其復(fù)雜，成品率低，成本較高。