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前文我們對(duì)馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的Zeta電位測(cè)試報(bào)告中的的參數(shù)逐一做了解釋?zhuān)敲措娢粶y(cè)試結(jié)果質(zhì)量要如何判別呢？Zeta電位的數(shù)據(jù)質(zhì)量主要取決于相位圖的質(zhì)量，可以從相位圖，質(zhì)量因子以及衰減器來(lái)做出判斷。01丨相位圖如下圖，測(cè)量產(chǎn)生的相位差隨時(shí)間的交變斜率，F(xiàn)FR快速電場(chǎng)轉(zhuǎn)換，相位隨電場(chǎng)轉(zhuǎn)換快且清晰；SFR慢速電場(chǎng)轉(zhuǎn)換，斜率大，縱坐標(biāo)絕對(duì)值大，即表示相位圖質(zhì)量較好。圖1：質(zhì)量較好的相位圖而當(dāng)測(cè)量產(chǎn)生的相位差隨時(shí)間的交變斜率不清晰，斜率低，縱坐標(biāo)絕對(duì)值小時(shí)，...

激光粒度分布儀是一種集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)為一體的高科技產(chǎn)品，工作原理基于光散射原理。當(dāng)激光照射到顆粒上時(shí)，會(huì)產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象。不同粒徑的顆粒會(huì)產(chǎn)生不同的散射光分布，通過(guò)檢測(cè)這些散射光的分布，可以反推出顆粒的粒徑分布。具體來(lái)說(shuō)，激光粒度分布儀通過(guò)收集和分析散射光的信號(hào)，來(lái)確定顆粒的大小分布。通常由激光器、樣品池、光學(xué)系統(tǒng)、探測(cè)器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出的激光經(jīng)過(guò)光學(xué)系統(tǒng)聚焦后，照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學(xué)系統(tǒng)收集，并聚焦到探測(cè)器上。探測(cè)器將光信號(hào)轉(zhuǎn)換...

X射線(xiàn)衍射儀是一種利用X射線(xiàn)衍射原理來(lái)精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力，進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當(dāng)一束X射線(xiàn)照射到晶體物質(zhì)上時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線(xiàn)波長(zhǎng)有相同數(shù)量級(jí)，故由不同原子散射的X射線(xiàn)相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線(xiàn)衍射。衍射線(xiàn)在空間分布的方位和強(qiáng)度與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，不同的晶體物質(zhì)具有自己獨(dú)t的衍射圖樣。通過(guò)分析這些衍射圖樣，可以獲得物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)信息。X射線(xiàn)衍射儀其基本結(jié)構(gòu)特...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種先進(jìn)的物理性能測(cè)試儀器，主要用于材料科學(xué)和生物學(xué)領(lǐng)域，能夠精準(zhǔn)測(cè)量納米顆粒的濃度、粒徑分布以及動(dòng)力學(xué)過(guò)程。其利用光散射和布朗運(yùn)動(dòng)的特性，通過(guò)激光光束穿過(guò)樣本室并沿光束散射光的路徑穿過(guò)懸浮液中的顆粒，實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化。攝像頭捕捉布朗運(yùn)動(dòng)下移動(dòng)顆粒的視頻文件，軟件單獨(dú)追蹤多個(gè)顆粒并利用愛(ài)因斯坦方程式計(jì)算顆粒的流體力學(xué)直徑。同時(shí)，該技術(shù)還可以提供顆粒的濃度信息和粒徑分布數(shù)據(jù)。納米顆粒跟蹤分析儀的應(yīng)用范圍廣泛，以下是對(duì)其應(yīng)用領(lǐng)域的具體介紹：1、生物醫(yī)學(xué)研究：在...

激光粒度分布儀是一種集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)為一體的高科技產(chǎn)品，工作原理基于光散射原理。當(dāng)激光照射到顆粒上時(shí)，會(huì)產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象。不同粒徑的顆粒會(huì)產(chǎn)生不同的散射光分布，通過(guò)檢測(cè)這些散射光的分布，可以反推出顆粒的粒徑分布。具體來(lái)說(shuō)，激光粒度分布儀通過(guò)收集和分析散射光的信號(hào)，來(lái)確定顆粒的大小分布。通常由激光器、樣品池、光學(xué)系統(tǒng)、探測(cè)器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出的激光經(jīng)過(guò)光學(xué)系統(tǒng)聚焦后，照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學(xué)系統(tǒng)收集，并聚焦到探測(cè)器上。探測(cè)器將光信號(hào)轉(zhuǎn)換...